サイカルトラスト（東京都渋谷区）は9月7日、半導体製造装置の部品や包装IDラベルなどから正規化した識別情報を生成し、供給元の電子分析証明書eCoA等と出荷〜廃棄の履歴を照合して不正混入を遮断する「鑑定証明システム（R）」について、特許出願（特願2026-099334）が特許査定を受け権利化が確定したと発表しました。特許査定の受領日は8月5日で、特許番号は付番後に公表予定です。
同社の仕組みは、部品本体の刻印や箱ラベル、外観・重量などの物理特徴と、「本物の証明書」（eCoA等）を突き合わせ、さらに流通・登録・状態遷移といったライフサイクル記録を照合します。乖離パターンを分類し判定表で不正類型を自動判定することで、製造ラインへの混入前に遮断する設計です。PQC（耐量子計算機暗号）やQKD（量子鍵配送）、ゼロ知識証明にも対応するとしています。
背景として同社は、米国防総省が調達する保守・交換用半導体で模造品が最大15％に達する推計（SIA）などを挙げ、不正な半導体が1個混入するだけでもロボットや自動車などの「フィジカルAI」に誤作動・停止・乗っ取り等のリスクを招き得ると説明します。市場面では、自動運転を除くフィジカルAIが年率34.4％で成長し、2050年に8,000兆円規模との推計も示されています。
今後は、本件を含む特許群で分割出願を継続し、脅威の変化に応じて権利範囲を拡張するとしています。あわせて国際標準規格「ISO 26345」（ISO/TC 307で策定中）の提案・原案作成を主導しているとしています。
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関連リリース（2026年9月4日配信）: https://prtimes.jp/main/html/rd/p/000000176.000044818.html
